MCS 光譜儀系列堅固耐用，且具備高可重復性和出色的分辨率。該類儀器應用廣泛，可在實驗室和工藝流程分析中執行高效測量。它們能夠被直接集成至線旁、在線和線內檢驗流程中。在熒光和涂層厚度測量及等離子體光譜學中能夠獲得快速可靠的測量結果。CCD 或 PDA 傳感器在 UV 至 NIR 波長范圍內擁有非常高的靈敏度，在低照度檢測時特別靈敏。

• 光纖交叉切面轉換器和/或狹縫作為光學輸入
  
• 成像、像差校正光柵
  
• 作為光電輸出的光電二極管陣列或薄型背照式 CCD 均連接至核心模塊
  
• 接口、處理軟件和技術支持

• 幾乎不受外界因素影響
  
• 可靠測量
  
• 溫度漂移很低
  
• 低雜散光
  
• 緊湊且堅固耐用的設計

• Hamamatsu S3904-512Q 或 1024Q 型硅二極管陣列探測器（PDA）
• 二極管陣列直接鍍有介質截止濾光膜
  
• Hamamatsu S7301-0906Q 或 1006Q 薄型背照式 CCD（CCD），對 UV 光具有出色的靈敏度
  
• 集成 Peltier 元件來減少暗電流
  
• 陶瓷機箱
  
• 像差校正光柵、交叉切面轉換器或機械式狹縫和探測器均直接與機箱相連
  
• 全息閃耀平場光柵
  
• 全息像差校正光柵可獲得約 25 mm 長的平面光譜
  
• 使用數值孔徑高達 0.22 的光纖作為光學輸入
  
• 光纖束交叉切面轉換器能將圓形光束轉換成槽形光束
  
• 風冷散熱器

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